Kategoriler
Eser Adı Yazar Yayınevi Açıklama İçindekiler Barkod
Arama  
Ana Sayfa Sipariş Takip Üyelik Yardım İletişim
 
 
Bülten
   

×
Patent, Faydalı Model ve Entegre Devre Topoğrafyası
(Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisi Kitap: 2)
Eylül 2021 / 1. Baskı / 209 Syf. / Ciltli
Fiyatı: 445.00 TL
Temin süresi 2-3 gündür.
 
Sepete Ekle
   

Sınai Mülkiyet Hakları Uygulamaları Serisinin bu kitabı; ekonomik kalkınmanın en önemli göstergelerinden olan patent, faydalı model ve entegre devre topoğrafyası ile ilgilidir. Bu alanlarda yapılacak başvurularda, güçlü bir koruma elde edilebilmesi için iyi bir strateji oluşturulmalı ve başvuru öncesinde detaylı çalışmalar yapılmalıdır.

Kitapta, başvurular için gerekli ön bilgilerden ve başvuru süreçlerinden bahsedilmiştir. Aynı zamanda, salt patent hukukunu içeren kitaplardan farklı olarak pratikte yararlanılabilecek bilgiler de verilmiş ve hâlihazırda var olan başvurulardan örnekler sunulmuştur. Ayrıca kitapta, uluslararası ofis uygulamaları ve mahkeme kararlarını içeren bilimsel örneklere de yer verilmiştir. Bu alanda çalışan, kariyer hedefleyen veya konuya ilgi duyan herkesin yararlanabileceği bir kaynak oluşturulmuştur.

(Tanıtım Bülteninden)

Barkod: 9786057422330
Yayın Tarihi: Eylül 2021
Baskı Sayısı:  1
Ebat: 17x25
Sayfa Sayısı: 209
Yayınevi: Lykeion Yayınları
Kapak Türü: Ciltli
Dili: Türkçe
Ekler: -

İlhami Güneş
Kasım 2021
1200.00 TL
Sepete Ekle
Özge Özşahin
Ekim 2017
515.00 TL
İndirimli: 220.00 TL (%57)
Sepete Ekle
 
Kitap
Bülten
Kitap
Kitap
İndirimli Kitaplar
 
 
Ana Sayfa | 2021 Kaynakça Dokümanı | Hakkımızda | Bülten | Kişisel Verilerin Korunması | Yardım | İletişim

Seçkin Yayıncılık San. Tic. A.Ş.
Copyright © 1996 - 2024